BİLİMSEL TEKNİK UYGULAMA VE ARAŞTIRMA MERKEZİ
Menu

SEM (Scanning Electron Microscope) Laboratuvarı 12 Ocak 2017

Marka Modeli: FEI / Quanta 450 FEG


      


Quanta Taramalı Elektron mikroskopları FEG elektron kaynaklı ve üç görüntüleme moduyla (yüksek vakum, düşük vakum, ESEM) numuneler için en geniş SEM uygulamalarına izin verir. Quanta 450 SEM sistemleri Enerji Dağılımı Spektrometresi (EDS), Dalgaboyu Dağılımı Spektrometresi (WDS) ve Geri Saçılan Elektron Difraksiyonu (EBSD) gibi analitik sistemler ile donatılmıştırr. Ek olarak Alan Emisyonu Tabancalı (FEG) sistemleri S/TEM dedektörü ile aydınlık alan (BF) ve karanlık alan (DF) örnek görüntülemesi yapabilirler.


 


Teknik Özellikleri


Voltaj Aralığı                                       : 200 V- 30 kV

Prob Akımı                                          : ≤ 200 nA

Büyültme                                             : 6 - 1000000 x

45o Objektif Lens Yapısı

6144 x 4096 Piksel Görüntüleme

Dijital Video Kaydı

EDS Özelliği

Yüksek Çözünürlüklü Schottky Field Emission



Numune Özellikleri:

Minitom (kesme) cihazla büyüklüğü uygun olmayan numuneler Alüminyum ve Elmas uçlu bıçakla büyüklüğü uygun hale getirilir.

Kalıplama cihazla (numune tutucu)  parlatma işleminde veya mikroskoba monte etme işleminde zorluk çekilecek küçük numuneler kalıplanarak hem otomatik parlatma diskine sığacak hale getirilir hem de daha kolay monte işlemi sağlanır.

Parlatma cihazı ile analizi yapılacak numunelerin yüzeyleri 1 mm mertebesinde parlatılabilir ve daha pürüzsüz bir yüzey elde edilebilir.

Püskürtme (Sputtering) cihazı ile iletken olmayan numuneler iletken bir tabaka (C, Au-Pd) ile kaplanır.

Critical point drier cihazı ile biyolojik numunelerin şeklini ve yapısını bozmadan ve kurutularak SEM’de incelenecek hale getirilir.


Uygulama Alanları

Metaller, bileşikler, seramikler, kompozitler, filmler, jeolojik parçalar, polimerler, dokular, bitki materyalleri, ilaçlar, partiküller, lifler gibi malzemelerin yüzey karakterizasyonu yapılabilmektedir.